利用 X射线或γ射线在穿透被检物各部分时强度衰减的不同﹐检测被检物中缺陷的一种无损检测方法。
原理 被测物体各部分的厚度或密度因缺陷的存在而有所不同。当X射线或γ射线在穿透被检物时﹐射线被吸收的程度也将不同。若射线的原始强度为I 0﹐通过线吸收係数为 的材料至距离后﹐强度因被吸收而衰减为I ﹐其关係为。若将受到不同程度吸收的射线投射在X射线胶片上﹐经显影后可得到显示物体厚度变化和内部缺陷情况的照片(X射线底片)。这种方法称为X射线照相法(见图 X 射线照相法示意图 )。如用荧光屏代替胶片直接观察被检物体﹐称为透视法。如用光敏元件逐点测定透过后的射线强度而加以记录或显示﹐则称为仪器测定法。
X 射线是在高真空状态下用高速电子衝击阳极靶而產生的。γ射线是放射性同位素在原子蜕变过程中放射出来的。两者都是具有高穿透力﹑波长很短的电磁波。不同厚度的物体需要用不同能量的射线来穿透﹐因此要分别採用不同的射线源。例如由X射线管发出的X射线(当电子的加速电压为400千伏时)﹐放射性同位素60Co所產生的γ射线和由 20兆电子伏直线加速器所產生的X射线﹐能穿透的最大钢材厚度分别约为90毫米﹑230毫米和600毫米。
应用 射线照相法已广泛应用於焊缝和铸件的内部质量检验﹐例如各种受压容器﹑锅炉﹑船体﹑输油和输气管道等的焊缝﹐各种铸钢阀门﹑泵体﹑石油钻探和化工﹑炼油设备中的受压铸件﹐精密铸造的透平叶片﹐航空和汽车工业用的各种铝镁合金铸件等。透视法的灵敏度较低﹐仪器测定法操作比较麻烦﹐两者均应用不多。
优缺点 射线照相法能较直观地显示工件内部缺陷的大小和形状﹐因而易於判定缺陷的性质﹐射线底片可作为检验的原始记录供多方研究并作长期保存。但这种方法耗用的X射线胶片等器材费用较高﹐检验速度较慢﹐只宜探查气孔﹑夹渣﹑缩孔﹑疏鬆等体积性缺陷﹐而不易发现间隙很小的裂纹和未熔合等缺陷以及锻件和管﹑棒等型材的内部分层性缺陷。此外﹐射线对人体有害﹐需要採取适当的防护措施。